一種測量鍍膜玻璃薄膜光學參數(shù)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200610053955.9 申請日 -
公開（公告）號 CN1963460A 公開（公告）日 2007-05-16
申請公布號 CN1963460A 申請公布日 2007-05-16
分類號 G01N21/00(2006.01);G01M11/02(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 韓高榮;劉涌;宋晨路;汪劍勛;劉軍波;劉起英 申請（專利權(quán)）人 杭州中天玻璃有限公司
代理機構(gòu) 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 代理人 韓介梅
地址 310027浙江省杭州市西湖區(qū)浙大路38號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種測量鍍膜玻璃薄膜光學參數(shù)的方法，包括如下步驟：建立薄膜厚度h、折射率n、消光系數(shù)k與薄膜透射率、反射率的函數(shù)關(guān)系，與實測鍍膜玻璃的可見光透射、反射光譜聯(lián)立構(gòu)成曲線擬和問題，利用模擬退火法、牛頓迭代法相結(jié)合的兩步法求解這個曲線擬和問題，從而獲得薄膜光學參數(shù)的測量結(jié)果。本發(fā)明與已有的相應(yīng)技術(shù)相比，更適于鍍膜玻璃薄膜的測量，具有快速準確的測量效果，測量結(jié)果穩(wěn)定，而且方法簡便易行，成本低廉。