模擬光子晶體光纖受力狀態(tài)下的測試方法及測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010041470.8 申請日 -
公開（公告）號 CN111189616B 公開（公告）日 2022-01-25
申請公布號 CN111189616B 申請公布日 2022-01-25
分類號 G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉永;杜明 申請（專利權(quán)）人 蘇州眾為光電有限公司
代理機構(gòu) 北京遠大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張川
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)向街8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的模擬光子晶體光纖受力狀態(tài)下的測試方法，包括步驟如下：測試前先對光子晶體光纖試樣進行檢測，記錄作為測試前的損耗初始值α1；將試樣的一端固定在旋轉(zhuǎn)臂上，并將試樣的部分纏繞在繞線輪上，并將試樣的兩端接通至檢測裝置上；固定座將試樣中間端固定，旋轉(zhuǎn)臂往復(fù)擺動，檢測裝置記錄測試過程的傳導(dǎo)過程中的損耗α2；固定座與試樣脫離接觸，直線驅(qū)動器驅(qū)使旋轉(zhuǎn)臂移動；將固定座將試樣重新固定，旋轉(zhuǎn)臂往復(fù)擺動，檢測裝置記錄測試過程的傳導(dǎo)過程中的損耗α3；測試結(jié)束，將試樣取下，測試并記錄試樣傳導(dǎo)過程中的損耗α4，該傳導(dǎo)測試方法操作方便，便于光子晶體光纖模擬現(xiàn)實的傳導(dǎo)狀態(tài)。