電讀出非制冷紅外探測器的測試電路與方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810324887.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108844639B 公開（公告）日 2019-10-01
申請公布號 CN108844639B 申請公布日 2019-10-01
分類號 G01J5/20;G01J5/24;G01N25/18;G01N25/20 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉超;候影;劉瑞文;傅劍宇;王瑋冰;陳大鵬 申請（專利權）人 昆山光微電子有限公司
代理機構 昆山中際國創(chuàng)知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 張文婷
地址 215300 江蘇省蘇州市昆山市周莊鎮(zhèn)園區(qū)大道南側
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電讀出非制冷紅外探測器的測試電路與方法，測試電路包括：待測樣品、固定電阻、可變電阻、電壓源、電壓放大模塊、電壓表和電壓示波器。其中以待測樣品作為測量臂、兩個固定電阻作為比例臂、可變電阻作為比較臂，構成惠斯通電橋；電橋由電壓源供電，電壓表并聯(lián)在與測量臂串聯(lián)的比例臂上，輸出端電壓經(jīng)電壓放大模塊放大后由電壓示波器顯示。本發(fā)明的測試電路與方法可以測量獲得電讀出非制冷紅外探測器的響應時間、熱導和熱容，具有電路簡單、操作簡便，功能多樣、測量精度高的特點。