一種納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅骷捌渲苽浞椒?/p>

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410224152.X 申請日 -
公開（公告）號 CN103983611B 公開（公告）日 2017-04-26
申請公布號 CN103983611B 申請公布日 2017-04-26
分類號 G01N21/45(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李秋順;董文飛;史建國;鄭暉;李恒杰;馬耀宏 申請（專利權）人 山東省科學院
代理機構 濟南舜源專利事務所有限公司 代理人 于曉曉
地址 250014 山東省濟南市歷下區(qū)科院路19號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅骷捌渲苽浞椒?，是在表面長有納米線陣列的導電玻璃與45°/45°/90°玻璃三棱鏡或半圓棱鏡耦合，構建基于Kretschmann結構的角度調(diào)制型或波長調(diào)制型納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅鳎景l(fā)明制備工藝簡單，與表面等離子體共振分析儀相比，大大簡化了傳感芯片的制作工藝，降低了器件的制作成本，大大提高了對折射率檢測的靈敏度。在食品安全、環(huán)境監(jiān)測、醫(yī)學檢驗等領域具有廣闊的商業(yè)化應用前景，有望被廣泛推廣應用。