一種納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅骷捌渲苽浞椒?/p>

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410224152.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103983611B 公開（公告）日 2017-04-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN103983611B 申請(qǐng)公布日 2017-04-26
分類號(hào) G01N21/45(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李秋順;董文飛;史建國(guó);鄭暉;李恒杰;馬耀宏 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 山東省科學(xué)院
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 代理人 于曉曉
地址 250014 山東省濟(jì)南市歷下區(qū)科院路19號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅骷捌渲苽浞椒?，是在表面長(zhǎng)有納米線陣列的導(dǎo)電玻璃與45°/45°/90°玻璃三棱鏡或半圓棱鏡耦合，構(gòu)建基于Kretschmann結(jié)構(gòu)的角度調(diào)制型或波長(zhǎng)調(diào)制型納米線陣列干涉?zhèn)鞲衅?，本發(fā)明制備工藝簡(jiǎn)單，與表面等離子體共振分析儀相比，大大簡(jiǎn)化了傳感芯片的制作工藝，降低了器件的制作成本，大大提高了對(duì)折射率檢測(cè)的靈敏度。在食品安全、環(huán)境監(jiān)測(cè)、醫(yī)學(xué)檢驗(yàn)等領(lǐng)域具有廣闊的商業(yè)化應(yīng)用前景，有望被廣泛推廣應(yīng)用。