基于概率的無監(jiān)督缺陷預(yù)測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610395767.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106021115B 公開（公告）日 2018-07-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN106021115B 申請(qǐng)公布日 2018-07-10
分類號(hào) G06F11/36 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 徐玲;陸正發(fā);鄢萌;楊夢(mèng)寧;葛永新;洪明堅(jiān);張小洪;周末;楊丹 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 重慶優(yōu)霓空科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶信航知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 重慶大學(xué);重慶優(yōu)霓空科技有限公司
地址 400044 重慶市沙坪壩區(qū)正街174號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及基于概率的無監(jiān)督缺陷預(yù)測(cè)方法，包括如下步驟，S1獲取度量元閾值，使用每個(gè)度量下源代碼類的度量元值的中位數(shù)作為閾值；S2度量元值與閾值的差值概率化；S3聚類，計(jì)算所有度量元下每個(gè)文件的概率之和，具有相同值的類歸為一類；S4標(biāo)記，如果某類文件所對(duì)應(yīng)的概率合大于等于L，則將該類文件標(biāo)記為有缺陷，否則標(biāo)記為無缺陷，從而將所有類標(biāo)記為有缺陷和沒有缺陷的兩類。本發(fā)明方法使用概率表示類存在缺陷的可能性，不同度量元值得到的概率不同，保留類存在缺陷可能性大小的信息。在標(biāo)記的過程中，根據(jù)數(shù)據(jù)集中缺陷的分布特點(diǎn)，選取合適的臨界值進(jìn)行標(biāo)記。在避免信息丟失的同時(shí)，選擇合適的標(biāo)記臨界值，提高了缺陷預(yù)測(cè)的性能。