氮化鎵基反相器芯片及其形成方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710122934.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN106910770B 公開(kāi)(公告)日 2020-05-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN106910770B 申請(qǐng)公布日 2020-05-15
分類號(hào) H01L29/778;H01L29/423;H01L29/47;H01L29/20;H01L21/335 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 劉春雪;閆發(fā)旺;張峰;趙倍吉;李晨 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海新傲科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海盈盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 上海新傲科技股份有限公司
地址 201821 上海市嘉定區(qū)普惠路200號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種氮化鎵基反相器芯片及其形成方法,所述氮化鎵基反相器芯片包括:襯底;位于所述襯底上的氮化鎵溝道層;位于所述氮化鎵溝道層上的勢(shì)壘層;位于部分勢(shì)壘層表面的P型III族金屬氮化物層;位于所述P型III族金屬氮化物層表面的第一電極;位于所述勢(shì)壘層表面第二電極、第三電極和第四電極。所述氮化鎵基反相器芯片具有良好的傳輸性和強(qiáng)的帶負(fù)載能力。