氮化鎵基反相器芯片及其形成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710122934.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN106910770B | 公開(公告)日 | 2020-05-15 |
申請公布號 | CN106910770B | 申請公布日 | 2020-05-15 |
分類號 | H01L29/778;H01L29/423;H01L29/47;H01L29/20;H01L21/335 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 劉春雪;閆發(fā)旺;張峰;趙倍吉;李晨 | 申請(專利權)人 | 上海新傲科技股份有限公司 |
代理機構 | 上海盈盛知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 上海新傲科技股份有限公司 |
地址 | 201821 上海市嘉定區(qū)普惠路200號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種氮化鎵基反相器芯片及其形成方法,所述氮化鎵基反相器芯片包括:襯底;位于所述襯底上的氮化鎵溝道層;位于所述氮化鎵溝道層上的勢壘層;位于部分勢壘層表面的P型III族金屬氮化物層;位于所述P型III族金屬氮化物層表面的第一電極;位于所述勢壘層表面第二電極、第三電極和第四電極。所述氮化鎵基反相器芯片具有良好的傳輸性和強的帶負載能力。 |
