電路主板可靠性測試方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111162557.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113866608A 公開（公告）日 2021-12-31
申請公布號 CN113866608A 申請公布日 2021-12-31
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭孝云;嚴寒亮 申請（專利權(quán)）人 廣東漢為信息技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 廣州永華專利代理有限公司 代理人 陳潔
地址 510535廣東省廣州市黃埔區(qū)聯(lián)和街道科豐路266號1701房、1702房、1703房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電路主板可靠性測試方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)。該測試方法包括以下步驟：步驟A.使待測試電路主板經(jīng)開關(guān)電連接控制裝置；步驟C.把溫控箱的溫度調(diào)節(jié)至測試溫度；步驟E.控制裝置啟動計時，計至預(yù)設(shè)冷卻時長后，控制裝置令所述開關(guān)導(dǎo)通，以使待測試電路主板通電并通信連接控制裝置，然后自動掃描電路主板，若在預(yù)設(shè)掃描時長內(nèi)掃描到電路主板X，則記錄電路主板X啟動成功，否則記錄電路主板X啟動失敗。該測試方法能自動對電路主板進行惡劣溫度下的啟動測試，無需人工計時后手動啟動電路主板以及記錄啟動結(jié)果，比較方便。