調(diào)控質(zhì)譜儀離子阱質(zhì)量分析器中離子數(shù)量的方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010060711.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111223740B | 公開(公告)日 | 2021-03-19 |
申請公布號 | CN111223740B | 申請公布日 | 2021-03-19 |
分類號 | H01J49/00(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 歐陽證;焦斌;卜杰洵;劉新瑋 | 申請(專利權(quán))人 | 北京清譜科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 王艷斌 |
地址 | 100084北京市海淀區(qū)清華園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種調(diào)控質(zhì)譜儀離子阱質(zhì)量分析器中離子數(shù)量的方法及系統(tǒng),其中,該方法包括:預(yù)設(shè)非連續(xù)進樣接口的開啟時長,將待測樣品離子引入離子阱;對待測樣品離子進行初始質(zhì)譜分析,保存并分析各項初始參數(shù),輸出初始質(zhì)譜圖信息;分析進入離子阱內(nèi)并被存儲的離子數(shù)量,并改變各項初始參數(shù)調(diào)控離子數(shù)量;通過預(yù)實驗建立各項初始參數(shù)與離子數(shù)量的關(guān)系模型,并對調(diào)控后得到的譜峰強度進行增益補償,確定各項最優(yōu)初始參數(shù);使用最優(yōu)初始參數(shù)進行質(zhì)譜分析,輸出譜峰強度與樣品濃度相對應(yīng)的質(zhì)譜圖。該方法可使便攜式質(zhì)譜儀可檢測的樣品濃度的動態(tài)范圍有較大提升,同時靈敏度、分辨率、質(zhì)量準確性等性能也有顯著提升,也增強了其處理復(fù)雜樣品的能力。?? |
