檢測產(chǎn)品缺陷的方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910141300.4 申請日 -
公開（公告）號 CN109829914B 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號 CN109829914B 申請公布日 2021-09-03
分類號 G06T7/00;G01N21/88;G01N21/94 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 別曉輝;別偉成;張哲;單書暢 申請（專利權(quán)）人 視睿（杭州）信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華知專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張德寶
地址 310000 浙江省杭州市余杭區(qū)余杭街道文一西路1818-2號5幢308室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種檢測產(chǎn)品缺陷的方法和裝置。其中，該方法包括：獲取待檢測產(chǎn)品的產(chǎn)品圖像，其中，待檢測產(chǎn)品包括多個(gè)子產(chǎn)品；對產(chǎn)品圖像進(jìn)行分割處理，得到多個(gè)子圖像，其中，每個(gè)子圖像包含至多一個(gè)子產(chǎn)品；根據(jù)預(yù)設(shè)模型對多個(gè)子圖像進(jìn)行處理，確定每個(gè)子產(chǎn)品對應(yīng)的缺陷等級，其中，預(yù)設(shè)模型為使用多組數(shù)據(jù)通過神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練出的，多組數(shù)據(jù)中的每組數(shù)據(jù)至少包括圖像以及圖像對應(yīng)的缺陷等級。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)對包含多個(gè)子產(chǎn)品的產(chǎn)品進(jìn)行檢測時(shí)，檢測效率低、準(zhǔn)確率低的技術(shù)問題。