芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120323989.5 申請日 -
公開（公告）號 CN214409206U 公開（公告）日 2021-10-15
申請公布號 CN214409206U 申請公布日 2021-10-15
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳玉龍;靳家奇;王永成;韓飛 申請（專利權(quán)）人 合肥格易集成電路有限公司
代理機構(gòu) 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 翟羽
地址 230601安徽省合肥市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)清華路368號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種芯片測試系統(tǒng)。本申請系統(tǒng)包括互連控制設(shè)備、高低溫試驗箱以及至少一測試板；所述互連控制設(shè)備包括第一端口與第二端口，所述互連控制設(shè)備通過所述第一端口接收所述至少一測試板發(fā)出的基于第一通信協(xié)議的第一溫控指令、根據(jù)所述第一溫控指令通過所述第二端口發(fā)送基于第二通信協(xié)議的第二溫控指令至所述高低溫試驗箱。本申請通過互連控制設(shè)備實現(xiàn)高低溫試驗箱與測試板的信息交互，從而可以控制高低溫試驗箱根據(jù)測試板上的測試程序發(fā)出的溫控指令做出相應(yīng)的溫控操作，實現(xiàn)全自動升降溫控制，能夠提供滿足被測芯片要求的溫度環(huán)境，為高穩(wěn)定性和可靠性芯片測試提供測試保障。