一種芯片的功耗測試系統(tǒng)和設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910517493.9 申請日 -
公開（公告）號 CN110297171B 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN110297171B 申請公布日 2021-10-01
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李軍;張軍;徐方海;王景華 申請（專利權(quán)）人 合肥格易集成電路有限公司
代理機構(gòu) 北京潤澤恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 莎日娜
地址 215008 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)東長路88號N1幢7層703室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N芯片的功耗測試系統(tǒng)和設(shè)備。其中，功耗測試系統(tǒng)包括：接口座、熱流罩、溫度傳感器、中央處理裝置、電壓輸入裝置和采樣裝置；接口座上設(shè)置有用于連接受試芯片的接口，接口通信連接至中央處理裝置；熱流罩罩設(shè)接口；溫度傳感器設(shè)置于熱流罩內(nèi)，且耦接至中央處理裝置；電壓輸入裝置的輸出端耦接至接口，電壓輸入裝置的控制端耦接至中央處理裝置；采樣裝置串聯(lián)在電壓輸入裝置與接口相耦接的通路上，且采樣裝置的采樣數(shù)據(jù)輸出端耦接至中央處理裝置。自動完成目標(biāo)受試芯片的功耗測試，并記錄目標(biāo)受試芯片在不同的工作環(huán)境溫度下的工作電流，避免人為配置測試參數(shù)造成失誤，或人為讀數(shù)和/或記錄錯誤導(dǎo)致的測試結(jié)果失準(zhǔn)。