一種半導體封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202023348107.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213905354U | 公開(公告)日 | 2021-08-06 |
申請公布號 | CN213905354U | 申請公布日 | 2021-08-06 |
分類號 | H01L25/065(2006.01)I;H01L21/98(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L23/538(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王國軍;曹立強;嚴陽陽 | 申請(專利權(quán))人 | 上海先方半導體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 薛異榮 |
地址 | 214000江蘇省無錫市新區(qū)太湖國際科技園菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園D1棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供一種半導體封裝結(jié)構(gòu),包括:第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層;第一芯片層,第一芯片層位于第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層一側(cè)表面,第一芯片層包括多個第一芯片,第一芯片層中的第一芯片均正面朝向第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層且與第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層電性連接;第二芯片層,第二芯片層位于第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層背向第一芯片層一側(cè)表面,第二芯片層包括多個第二芯片,第二芯片層中的第二芯片均正面朝向第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層且與第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層電性連接。第一芯片層和第二芯片層中的第二芯片均正面朝向第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層,通過第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層實現(xiàn)對面焊接。需要對接的芯片對面直接焊接,可有效減少線路傳輸損耗,相比于錫球焊接,芯片之間的第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)層的厚度相對較薄,可以有效降低封裝結(jié)構(gòu)的整體厚度。 |
