一種X射線影像探測器及相應(yīng)的安檢系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022227722.4 申請日 -
公開（公告）號 CN214011091U 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN214011091U 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01N23/04（2018.01）I;G01V5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 崔志立;付天坤 申請（專利權(quán)）人 北京納米維景科技有限公司
代理機構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳曦;任佳
地址 100094北京市海淀區(qū)北清路68號院1號樓一層1-06
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種X射線影像探測器及相應(yīng)的安檢系統(tǒng)。該探測器中，第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接低能探測模塊，第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接高能探測模塊，第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊與第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊分別連接處理模塊；第一模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊所在的電路板垂直連接于低能探測模塊所在的第一安裝電路板，第二模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊所在的電路板垂直連接于高能探測模塊所在的第二安裝電路板。該探測器不僅減小了寬度，并且低能探測模塊與高能探測模塊的布局相同，減少了物料種類，便于生產(chǎn)和維護。