一種缺陷檢測模型訓練方法、缺陷檢測方法、裝置及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110707315.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113255590A 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN113255590A 申請公布日 2021-08-13
分類號 G06K9/00（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G01N21/88（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 戴永東;王茂飛;蔣中軍;翁蓓蓓;劉璽;鞠玲;宋旭琳 申請（專利權）人 眾芯漢創(chuàng)（北京）科技有限公司
代理機構 北京市隆安律師事務所 代理人 楊云
地址 100094北京市海淀區(qū)東北旺西路8號5號樓一層129室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷檢測模型訓練方法、缺陷檢測方法、裝置及系統(tǒng)，方法包括：建立神經(jīng)網(wǎng)絡模型；采集多種類型線路缺陷的樣本圖像并進行處理；將處理后的樣本圖像輸入至所述神經(jīng)網(wǎng)絡模型進行訓練，獲得缺陷檢測模型；通過測試圖片對所述缺陷檢測模型評估；對評估滿足預設條件的各缺陷類型的缺陷檢測模型進行容器化存儲；該方法能夠適用于不同背景場景下的缺陷識別。