基于圖像濾鏡算法的對(duì)抗樣本檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811431005.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109543760B 公開（公告）日 2021-10-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN109543760B 申請(qǐng)公布日 2021-10-19
分類號(hào) G06K9/62（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 易平;顧雙馳;楊濤 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 公安部第三研究所
代理機(jī)構(gòu) 上海交達(dá)專利事務(wù)所 代理人 王毓理;王錫麟
地址 200240上海市閔行區(qū)東川路800號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種基于圖像濾鏡算法的對(duì)抗樣本檢測(cè)方法，通過圖像濾鏡算法對(duì)待測(cè)樣本進(jìn)行處理后得到多個(gè)比對(duì)樣本，將比對(duì)樣本與待測(cè)樣本一并輸入深度學(xué)習(xí)模型進(jìn)行分類，通過評(píng)估分類結(jié)果的不一致性以判斷待測(cè)樣本屬于對(duì)抗樣本或正常樣本。本發(fā)明針對(duì)人工智能的圖像對(duì)抗攻擊，能夠應(yīng)用于圖像分類，圖像識(shí)別領(lǐng)域，能夠以相對(duì)低廉的成本對(duì)輸入樣本進(jìn)行檢測(cè)進(jìn)而提升深度學(xué)習(xí)模型的安全性能。