測試數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111153287.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114185765A | 公開(公告)日 | 2022-03-15 |
申請公布號 | CN114185765A | 申請公布日 | 2022-03-15 |
分類號 | G06F11/36(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 黃云鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 五八同城信息技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京潤澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 呂俊秀 |
地址 | 300450天津市濱海新區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)南港工業(yè)區(qū)綜合服務(wù)區(qū)辦公樓C座二層210-03室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種測試數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括:獲取被測系統(tǒng)的目標(biāo)測試數(shù)據(jù),所述目標(biāo)測試數(shù)據(jù)包括:所述被測系統(tǒng)的目標(biāo)接口的多個(gè)接口參數(shù),以及各所述接口參數(shù)的測試值;對所述目標(biāo)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取,得到特征數(shù)據(jù),所述特征數(shù)據(jù)用于反映所述目標(biāo)測試數(shù)據(jù)中是否存在需要進(jìn)行參數(shù)校驗(yàn),且所述測試值未通過所述參數(shù)校驗(yàn)的接口參數(shù);將所述特征數(shù)據(jù)輸入測試結(jié)果預(yù)測模型,得到預(yù)期測試結(jié)果,所述預(yù)期測試結(jié)果用于指示所述目標(biāo)測試數(shù)據(jù)是否為正常用例。本發(fā)明在一定程度上提高了測試數(shù)據(jù)的生成效率。 |
