表面粗糙度檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200810223654.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN101363725B 公開（公告）日 2011-04-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN101363725B 申請(qǐng)公布日 2011-04-20
分類號(hào) G01B11/30(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李粉蘭;段海峰;郝建國;許祖茂;李俊國 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京時(shí)代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京時(shí)代之峰科技有限公司;北京時(shí)代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號(hào)1幢二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種表面粗糙度的檢測(cè)裝置，包括光源單元和光電探測(cè)器，光源單元發(fā)出光照射被測(cè)表面，光電探測(cè)器探測(cè)由被測(cè)表面反射的光得到檢測(cè)信號(hào)，被測(cè)表面與檢測(cè)裝置的光軸和光電探測(cè)器位于同一平面內(nèi)，被測(cè)表面以與所述光軸成第一角度放置，光電探測(cè)器以與所述光軸成第二角度放置，以防光從光電探測(cè)器反射回被測(cè)表面。本發(fā)明的表面粗糙度檢測(cè)裝置，既避免了反射光對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，又減少了吸收裝置而降低成本。