表面粗糙度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810223654.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101363725B 公開（公告）日 2011-04-20
申請公布號 CN101363725B 申請公布日 2011-04-20
分類號 G01B11/30(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李粉蘭;段海峰;郝建國;許祖茂;李俊國 申請（專利權(quán)）人 北京時代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京時代之峰科技有限公司;北京時代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號1幢二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種表面粗糙度的檢測裝置，包括光源單元和光電探測器，光源單元發(fā)出光照射被測表面，光電探測器探測由被測表面反射的光得到檢測信號，被測表面與檢測裝置的光軸和光電探測器位于同一平面內(nèi)，被測表面以與所述光軸成第一角度放置，光電探測器以與所述光軸成第二角度放置，以防光從光電探測器反射回被測表面。本發(fā)明的表面粗糙度檢測裝置，既避免了反射光對測量結(jié)果的影響，又減少了吸收裝置而降低成本。