鍍層厚度測(cè)量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201020639594.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN201876248U 公開(kāi)（公告）日 2011-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN201876248U 申請(qǐng)公布日 2011-06-22
分類(lèi)號(hào) G01B15/02(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 崔厚欣;吳速;楊長(zhǎng)江;高會(huì)娟;劉大亮 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 北京時(shí)代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京時(shí)代之峰科技有限公司;北京時(shí)代之峰佳億科技有限責(zé)任公司
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種鍍層厚度測(cè)量裝置，其包括：X射線(xiàn)管，與高壓電源相連接，發(fā)射出X射線(xiàn)，所述X射線(xiàn)的發(fā)射方向向上；準(zhǔn)直器，設(shè)置在所述X射線(xiàn)管與被測(cè)物質(zhì)之間；射線(xiàn)安全聯(lián)鎖機(jī)構(gòu)，設(shè)置在X射線(xiàn)管與準(zhǔn)直器之間；射線(xiàn)檢測(cè)器，接收X射線(xiàn)照射到被測(cè)物質(zhì)后發(fā)出的熒光信號(hào)，并轉(zhuǎn)化為電信號(hào)；前置放大器、主放大器、多道分析器與中央控制電路順序連接；計(jì)算機(jī)，與所述中央控制電路相連接，接收所述中央控制電路采集的電信號(hào)并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與計(jì)算，獲得被測(cè)物質(zhì)的測(cè)量結(jié)果。本實(shí)用新型采用下照式檢測(cè)結(jié)構(gòu)，測(cè)量時(shí)只需要將被測(cè)物質(zhì)的被測(cè)面朝下放置在檢測(cè)臺(tái)上即可，從而使儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。