一種測試PIM用的治具
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201922433221.9 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212483624U | 公開（公告）日 | 2021-02-05 |
| 申請公布號 | CN212483624U | 申請公布日 | 2021-02-05 |
| 分類號 | G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 郭珍云;周大偉 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳市博敏電子有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京中濟緯天專利代理有限公司 | 代理人 | 陸薇薇 |
| 地址 | 518103廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道白石廈龍王廟工業(yè)區(qū)21棟 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種測試PIM用的治具，包括有活動架，所述活動架的上端固定安裝有電動推桿，所述電動推桿的活塞桿貫穿活動架的上端，且所述電動推桿的活塞桿的一端固定連接有防護盤，所述活動架的內(nèi)部開設(shè)有螺紋孔，所述螺紋孔的內(nèi)部螺紋連接有螺桿，所述螺桿的一端與測試座的上端相連接，所述測試座的內(nèi)部開設(shè)有測試腔，所述測試座的一側(cè)設(shè)置有第一射頻同軸連接器，且所述測試座的一側(cè)還設(shè)置有第二射頻同軸連接器。本實用新型通過使用測試座上可以升降移動的防護盤，可以有效的保證測試樣品的安全性，同時使用螺桿升降活動架，可以使得治具可以適應(yīng)不同高度大小的測試樣品，提高了使用時的實用性。?? |
