光學(xué)模塊及背光模組
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110266965.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113641034A | 公開(公告)日 | 2021-11-12 |
申請公布號 | CN113641034A | 申請公布日 | 2021-11-12 |
分類號 | G02F1/13357(2006.01)I | 分類 | 光學(xué); |
發(fā)明人 | 吳昇達(dá) | 申請(專利權(quán))人 | 達(dá)亮電子(滁州)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 239000安徽省滁州市蘇滁現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)園清流東路2168號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種光學(xué)模塊及背光模組,其包含電路板、第一發(fā)光元件、第一光學(xué)調(diào)整層以及檢測塊。第一發(fā)光元件設(shè)置于該電路板上;該第一光學(xué)調(diào)整層對應(yīng)該第一發(fā)光元件設(shè)置于該電路板上;檢測塊設(shè)置于該電路板上,該檢測塊與該第一光學(xué)調(diào)整層經(jīng)由同一道工序形成;該檢測塊供檢測以確認(rèn)該第一光學(xué)調(diào)整層的光學(xué)特性。本發(fā)明通過采用同一道工序在電路板上形成檢測塊以及與光學(xué)元件對應(yīng)的光學(xué)調(diào)整層,通過對檢測塊進(jìn)行檢測以知曉光學(xué)調(diào)整層的光學(xué)特性,從而可以對光學(xué)調(diào)整層加以追蹤管控,確保光學(xué)調(diào)整層對與之對應(yīng)的發(fā)光元件的光學(xué)調(diào)整效果,進(jìn)而保證了背光模組以及顯示裝置的顯示效果。 |
