測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710536672.8 申請日 -
公開（公告）號 CN107340467B 公開（公告）日 2020-02-07
申請公布號 CN107340467B 申請公布日 2020-02-07
分類號 G01R31/3185;G01R31/319 分類 測量；測試;
發(fā)明人 許江波;王鵬 申請（專利權(quán)）人 北京兆芯電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市柳沈律師事務(wù)所 代理人 北京兆芯電子科技有限公司
地址 100084 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路1號院7號樓威盛中國芯大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種測試系統(tǒng)。所述測試系統(tǒng)包括電路板以及電子裝置。所述電路板包括待測裝置、聯(lián)合測試(JTAG)接口，以及掃描鏈電路。掃描鏈電路包含多個掃描鏈，且耦接至待測裝置以及聯(lián)合測試接口，其中每一掃描鏈包括多個掃描D型觸發(fā)器。電子裝置耦接聯(lián)合測試行動小接口，以對待測裝置進(jìn)行測試。