應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811580764.7 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN109708793A 公開(公告)日 2019-05-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN109708793A 申請(qǐng)公布日 2019-05-03
分類號(hào) G01L5/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 程亞宇;王文軍;關(guān)志剛;張建華;王振山;張相臣;趙賀祥;孫永忠 申請(qǐng)(專利權(quán))人 思特爾智能檢測(cè)系統(tǒng)(蘇州)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中和立達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 祝妍
地址 215000 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)若水路388號(hào)H幢522
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng),包括:應(yīng)力測(cè)試儀、計(jì)算機(jī);所述應(yīng)力測(cè)試儀連接至所述計(jì)算機(jī);所述應(yīng)力測(cè)試儀包括殼體、第一探頭、第二探頭;其中,所述應(yīng)力測(cè)試儀工作時(shí)需要連接兩個(gè)探頭;其中,所述第一探頭為測(cè)量探頭,在測(cè)試時(shí)所述第一探頭放在被測(cè)工件上;所述第二探頭為補(bǔ)償探頭,在測(cè)試時(shí)將所述第二探頭放在參考板上。此外,本發(fā)明還公開了一種應(yīng)力測(cè)試方法。本發(fā)明公開的應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)及方法適用于鋼、鑄鐵等鐵磁性材料的應(yīng)力測(cè)試,可無損檢測(cè)殘余應(yīng)力沿層深的分布,具有友好的人機(jī)對(duì)話界面,操作方便。