溝槽型MOS結(jié)構(gòu)肖特基二極管及其制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811224311.0 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111081754A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-04-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111081754A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-04-28 |
分類號(hào) | H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王艷春;周亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 寧波比亞迪半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 寧波比亞迪半導(dǎo)體有限公司 |
地址 | 315800 浙江省寧波市保稅區(qū)南區(qū)廬山西路155號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了溝槽型MOS結(jié)構(gòu)肖特基二極管及其制備方法。所述溝槽型MOS結(jié)構(gòu)肖特基二極管包括N型摻雜襯底、設(shè)置在所述N型摻雜襯底上表面上的N型摻雜外延層和從所述N型摻雜外延層的上表面向所述N型摻雜外延層中延伸的多個(gè)溝槽,其中,所述N型摻雜外延層中的摻雜濃度由上至下逐漸升高。由此,通過(guò)改變肖特基二極管中N型摻雜外延層的雜質(zhì)摻雜濃度(N型摻雜外延層中的摻雜濃度由上至下逐漸升高),可以改變N型摻雜外延層電場(chǎng)強(qiáng)度分布,進(jìn)而降低溝槽底部拐角處的峰值電場(chǎng),達(dá)到改善肖特基二極管的反向阻斷特性和器件的正向?qū)ㄌ匦?,即降低肖特基二極管的反向漏電流,升高反向擊穿電壓。 |
