光子晶體顯微鏡和細(xì)胞力學(xué)測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010931803.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111812095A 公開（公告）日 2020-10-23
申請公布號 CN111812095A 申請公布日 2020-10-23
分類號 G01N21/84(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧忠澤;李奇維;陳早早 申請（專利權(quán)）人 江蘇艾瑋得生物科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中知法苑知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李明;趙吉陽
地址 215000 江蘇省蘇州市高新區(qū)富春江路188號1號樓7層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開實(shí)施例提供一種光子晶體顯微鏡和細(xì)胞力學(xué)測量方法。光子晶體顯微鏡包括光子晶體基底、載物臺、探測光源和成像組件，光子晶體基底在載物臺上方，探測光源和成像組件依次位于載物臺背離光子晶體基底的一側(cè)，光子晶體基底用于培養(yǎng)待測細(xì)胞，并且，在待測細(xì)胞在光子晶體基底上生長時(shí)，光子晶體基底能夠產(chǎn)生形變；其中，探測光源，用于向光子晶體基底發(fā)出探測光；光子晶體基底反射探測光至成像組件；成像組件，接收來自光子晶體基底的反射光進(jìn)行成像，以利用成像圖形得到待測細(xì)胞與光子晶體基底之間的作用力信息。在保證亞細(xì)胞測量精度的前提下實(shí)現(xiàn)了通量的大幅度提高，簡化了算法的復(fù)雜度、提高了時(shí)間分辨率、降低裝置成本與實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜度。??