確定測(cè)量模式和光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)容差的方法和裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410542475.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN105571484B 公開(kāi)(公告)日 2018-07-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN105571484B 申請(qǐng)公布日 2018-07-06
分類號(hào) G01B11/00;G06F17/30;B82Y35/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王鑫;張振生;施耀明;徐益平 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海浦東新興產(chǎn)業(yè)投資有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京漢昊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)華佗路68號(hào)6幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于確定OCD測(cè)量中的光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)容差的方案,其中,對(duì)于多個(gè)測(cè)量模式中的每一個(gè)測(cè)量模式所對(duì)應(yīng)的歸一化的信號(hào)偏移量;并從所述多個(gè)測(cè)量模式中選擇所對(duì)應(yīng)的歸一化的信號(hào)偏移量最大的測(cè)量模式,作為最佳測(cè)量模式;并根據(jù)最佳測(cè)量模式所對(duì)應(yīng)的未歸一化的信號(hào)偏移量,確定所述光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)容差。根據(jù)本實(shí)施例的方法,可以確定滿足各個(gè)結(jié)構(gòu)參數(shù)測(cè)量靈敏度和精確度需求的最佳測(cè)量模式,并確定各個(gè)光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)容差,從而提高測(cè)量的靈敏度和精確度。