一種非接觸性TP蓋板測試架

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201822195079.4 申請日 -
公開（公告）號 CN209460336U 公開（公告）日 2019-10-01
申請公布號 CN209460336U 申請公布日 2019-10-01
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄭廣輝 申請（專利權(quán)）人 江西華爾升科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州中合知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 江西華爾升科技有限公司
地址 336100 江西省宜春市萬載縣高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園華爾升大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種非接觸性TP蓋板測試架，包括：底板、支撐板、亞克力蓋板和靜電容TP觸摸功能片；所述底板和所述支撐板構(gòu)成L型支撐架，其中所述底板為水平板，用于放置LCD顯示屏；所述支撐板為豎直板；所述亞克力蓋板連接至所述支撐板，且所述LCD顯示屏與所述亞克力蓋板之間保持間隙；所述靜電容TP觸摸功能片固定在所述亞克力蓋板的下表面。本實(shí)用新型的非接觸性TP蓋板測試架有效的減少了每測試一次放一次亞克力蓋板的弊端，效率在目前的測試方法上提高了30％，同時(shí)TP觸摸誤判率降低70％。