一種垂直探針卡裝置及其檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111376229.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114034894B 公開（公告）日 2022-04-26
申請公布號 CN114034894B 申請公布日 2022-04-26
分類號 G01R1/067（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王強(qiáng);金永斌;賀濤;丁寧;朱偉 申請（專利權(quán)）人 法特迪精密科技（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 215000江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)興浦路200號5#101、102、201、202
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明一種垂直探針卡裝置及其檢測方法涉及探針卡技術(shù)領(lǐng)域；所述垂直探針卡裝置包括上層導(dǎo)板、中層導(dǎo)板、下層導(dǎo)板、變形連接裝置、第一探針、第二探針、電路板和第一焊墊；上層導(dǎo)板、中層導(dǎo)板和下層導(dǎo)板分別對應(yīng)設(shè)置有多個垂直限位通孔，上層導(dǎo)板和中層導(dǎo)板之間陣列設(shè)置有多個變形連接裝置，多個所述第一探針的一端穿過上層導(dǎo)板的垂直限位通孔與對應(yīng)設(shè)置的變形連接裝置一端電性相連；所述垂直探針卡裝置檢測方法依次執(zhí)行固定安裝、對準(zhǔn)定位、高度設(shè)定、施壓推進(jìn)和閉路測試步驟；本發(fā)明垂直探針卡裝置及其檢測方法解決了現(xiàn)有的探針的變形偏移問題、探針的接觸問題和探針更換修復(fù)問題，以達(dá)到接觸良好，針痕清晰，有效利用的效果。