測試電路、測試方法和包括測試電路的計算系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110048109.2 申請日 -
公開（公告）號 CN114764118A 公開（公告）日 2022-07-19
申請公布號 CN114764118A 申請公布日 2022-07-19
分類號 G01R31/317（2006.01）I;G01R31/3183（2006.01）I;G01R31/3185（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳默;范志軍;劉建波;許超 申請（專利權）人 深圳比特微電子科技有限公司
代理機構 中國貿(mào)促會專利商標事務所有限公司 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市高新技術產(chǎn)業(yè)園高新南六道航盛科技大廈801室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及測試電路、測試方法和包括測試電路的計算系統(tǒng)。一種測試電路包括：測試序列提供模塊，用于提供測試序列到待測試的時序器件；時鐘驅動模塊，用于提供時鐘信號到所述待測試的時序器件，其包括第一時鐘驅動電路，所述第一時鐘驅動電路包括：多個第一時鐘路徑，分別提供對應的時鐘信號；以及邏輯單元，基于所述多個第一時鐘路徑提供的時鐘信號中的至少一部分，產(chǎn)生脈寬調(diào)節(jié)的第一時鐘信號以用于所述待測試的時序器件；以及驗證模塊，用于對所述待測試的時序器件的輸出進行驗證。