一種系統(tǒng)級芯片的驗證平臺及其驗證方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010621116.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113868987A 公開（公告）日 2021-12-31
申請公布號 CN113868987A 申請公布日 2021-12-31
分類號 G06F30/33（2020.01）I;G06F115/08（2020.01）N 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 毛惠敏;李順林 申請（專利權(quán)）人 瀾至電子科技（成都）有限公司
代理機構(gòu) 上海一平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐迅;成春榮
地址 610200四川省成都市雙流區(qū)東升街道成都芯谷產(chǎn)業(yè)園集中區(qū)內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種系統(tǒng)級芯片的驗證平臺及驗證方法，該方法包括：通用驗證方法學(xué)測試實例生成約束的隨機參數(shù)和隨機控制并將其存儲于總線功能模型的存儲區(qū)域；軟件測試實例通過中央處理器單元從所述存儲區(qū)域讀取所述隨機參數(shù)和隨機控制配置系統(tǒng)級芯片的測試；將所述軟件測試實例的執(zhí)行狀態(tài)信息存儲于所述存儲區(qū)域；所述通用驗證方法學(xué)測試實例讀取所述執(zhí)行狀態(tài)信息，根據(jù)所述執(zhí)行狀態(tài)信息調(diào)整生成隨機參數(shù)和隨機控制的約束條件以排除已測場景，并將所述執(zhí)行狀態(tài)信息轉(zhuǎn)換成覆蓋率數(shù)據(jù)用于覆蓋率分析。