結(jié)構(gòu)光3D測高裝置及測高方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110148048.7 申請日 -
公開(公告)號 CN112461141A 公開(公告)日 2021-03-09
申請公布號 CN112461141A 申請公布日 2021-03-09
分類號 G01B11/06(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 李夢夢 申請(專利權(quán))人 嘉興景焱智能裝備技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 上海霖睿專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 黃燕石;陳得宗
地址 314100浙江省嘉興市嘉善縣羅星街道歸谷二路33號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及精密光學儀器測量系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種結(jié)構(gòu)光3D測高裝置,包括結(jié)構(gòu)光光路和主鏡光路,所述結(jié)構(gòu)光光路與主鏡光路之間形成一個夾角,兩者交點位置為待測物位置,所述結(jié)構(gòu)光光路包括依次排布的光源、與結(jié)構(gòu)光光路呈一定角度的光柵和結(jié)構(gòu)光鏡頭,所述主鏡光路包括主鏡和CMOS相機,所述結(jié)構(gòu)光鏡頭為小視場的雙遠心鏡頭,所述待測物的表面、結(jié)構(gòu)光鏡頭的主面和光柵的表面,三者滿足沙姆定律;所述光柵能夠沿其傾斜方向移動,所述主鏡為大NA遠心鏡頭,使所述待測物與CMOS相機呈共軛關(guān)系。本發(fā)明還公開了對應(yīng)的測高方法。本發(fā)明實現(xiàn)更大檢測范圍和更高的檢測精度和更快的檢測速度。??