一種探測(cè)器線性度標(biāo)定方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111242209.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113945276A 公開（公告）日 2022-01-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN113945276A 申請(qǐng)公布日 2022-01-18
分類號(hào) G01J1/42（2006.01）I;G01J1/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉衛(wèi)靜;廖志杰;何毅;謝強(qiáng) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成都同力精密光電儀器制造有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 代理人 江亞平
地址 610209四川省成都市雙流350信箱
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種探測(cè)器線性度標(biāo)定方法，該方法用于探測(cè)器線性度標(biāo)定中。利用多個(gè)透過(guò)率已知且相同的衰減片做光源能量衰減器，通過(guò)插入不同數(shù)量的衰減片，獲得不同的衰減倍率，在不同衰減倍率下采集探測(cè)器的數(shù)值，繪制衰減倍率和探測(cè)器數(shù)值曲線，再進(jìn)行最小二乘法擬合，得到探測(cè)器線性度。