一種芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023322417.X 申請日 -
公開（公告）號 CN214441032U 公開（公告）日 2021-10-22
申請公布號 CN214441032U 申請公布日 2021-10-22
分類號 B07C5/34 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 門洪達;陶建軍 申請（專利權）人 東莞觀在機器人有限公司
代理機構 東莞市奧豐知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 周文
地址 523000 廣東省東莞市大嶺山鎮(zhèn)月山村工業(yè)區(qū)B棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種芯片測試裝置，包括底座以及均安裝在底座上的測試模組，測試模組包括測試通道、進料阻擋機構、支座、金手指夾測機構、測試阻擋機構、下對射感應機構和出料阻擋機構，進料阻擋機構安裝在測試通道進口端的旁側(cè)，金手指夾測機構和測試阻擋機構分別安裝在支座的上側(cè)和下側(cè)且均位于測試通道的前方，出料阻擋機構均安裝在測試通道出口端的旁側(cè)。本實用新型能對芯片進行暫存，測試效率較高。