用于測量微納顆粒的裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911158297.3 申請日 -
公開（公告）號 CN110823773A 公開（公告）日 2020-02-21
申請公布號 CN110823773A 申請公布日 2020-02-21
分類號 G01N15/00;G01N15/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 柳可;熊貴;王哲 申請（專利權(quán)）人 瑞芯智造（深圳）科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市隆天聯(lián)鼎知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉抗美
地址 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道新瀾社區(qū)觀光路1301號銀星科技大廈C601
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請的實施例揭示了一種用于測量微納顆粒的裝置和方法。其中，該裝置包括：包括腔體和至少兩張微孔膜，所述微孔膜串設(shè)在所述腔體內(nèi)，將所述腔體分隔為多個腔室，并且所述微孔膜上具有微孔，相鄰兩個腔室通過所述微孔相連通，每個所述腔室具有電極。該方法包括：使待測量的微納顆粒隨電解液連續(xù)通過所述裝置的微孔；獲取所述微納顆粒通過每個所述微孔的過程中，與每個所述微孔相鄰的兩個電極之間的電信號數(shù)據(jù)；根據(jù)所述電信號數(shù)據(jù)確定所述微納顆粒的屬性數(shù)據(jù)。本申請實施例的技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對溶液狀態(tài)下的微納顆粒的三維形態(tài)屬性的測量。