一種磁微粒發(fā)光雙層微流控芯片以及檢測系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | PCT/CN2020/120091 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | WO2021068914A1 | 公開(公告)日 | 2021-04-15 |
申請公布號 | WO2021068914A1 | 申請公布日 | 2021-04-15 |
分類號 | G01N33/533;G01N33/543 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | WANG, DONG;王東;FAN, YUXIA;范玉霞;LI, QUAN;李泉 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳華邁興微醫(yī)療科技有限公司 |
代理機構(gòu) | - | 代理人 | GLAMORAL INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY. CO.;深圳盛德大業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) |
地址 | 8th Floor,Building A, No.16-1, Jinhui Road, Jinsha Community, Kengzi Subdistrict, Pingshan District,Shenzhen, Guangdong 518000 CN | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種磁微粒發(fā)光雙層微流控芯片以及檢測系統(tǒng)。芯片包括頂板(1)和底板(2),頂板(1)包括加樣部(11)、標記配體存儲部(12)和樣本混合區(qū)(13),樣本混合區(qū)(13)分別與加樣部(11)與標記配體存儲部(12)相互連通;底板(2)包括導流區(qū)(21)、磁顆粒包被部(22)、清洗區(qū)(23)、檢測區(qū)(24)和清洗液存儲部(25),導流區(qū)(21)內(nèi)部設有高度低于磁顆粒包被部(22)底璧的凹槽(211)以及設在凹槽(211)上并連接磁顆粒包被部(22)的導流部(212)。樣本從加樣部(11)進入,在樣本混合區(qū)(13)與標記配體相互混合,再進入導流區(qū)(21)的凹槽(211),需通過毛細作用才能夠吸走凹槽(211)中的樣本,并且由于截斷槽(213)和阻斷部(214)的作用,樣本只能從導流部(212)進入磁顆粒包被部(22),再與磁顆粒配體混合反應,并在清洗區(qū)(23)清洗之后,在檢測區(qū)(24)實現(xiàn)發(fā)光檢測。 |
