目標(biāo)檢測(cè)處理方法、裝置、介質(zhì)及電子設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110581939.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113033719B 公開（公告）日 2021-08-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN113033719B 申請(qǐng)公布日 2021-08-24
分類號(hào) G06K9/62（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王威 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江啄云智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 310051浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道六和路中控大廈E座9樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種目標(biāo)檢測(cè)處理方法、裝置、介質(zhì)及電子設(shè)備。所述方法包括：確定樣本圖像的候選區(qū)域集合，以及所述候選區(qū)域集合中候選區(qū)域的損失值；根據(jù)所述候選區(qū)域的損失值和目標(biāo)檢測(cè)模型的基礎(chǔ)難例數(shù)量，確定所述樣本圖像的擴(kuò)張難例數(shù)量；從所述候選區(qū)域集合中選擇損失值相對(duì)較高的擴(kuò)張難例數(shù)量個(gè)候選區(qū)域，以得到所述樣本圖像的擴(kuò)張難例集合，且從所述擴(kuò)張難例集合中選擇基礎(chǔ)難例數(shù)量個(gè)候選區(qū)域，以得到所述樣本圖像的基礎(chǔ)難例集合，用于采用所述樣本圖像的基礎(chǔ)難例集合對(duì)所述目標(biāo)檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練。本方案能夠提高模型穩(wěn)定性。