一種智能門鎖及其狀態(tài)檢測方法和裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010936303.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112031543B | 公開(公告)日 | 2022-04-26 |
申請公布號 | CN112031543B | 申請公布日 | 2022-04-26 |
分類號 | E05B47/00(2006.01)I;G01P3/00(2006.01)I;G01B21/00(2006.01)I | 分類 | 鎖;鑰匙;門窗零件;保險箱; |
發(fā)明人 | 李陽;王強(qiáng);王飛;黃鈞;劉劍鋒;李志 | 申請(專利權(quán))人 | 北京紫光安芯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張柳 |
地址 | 100083北京市海淀區(qū)王莊路1號院清華同方科技大廈D座15層1511-01號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請?zhí)峁┝艘环N智能門鎖及其狀態(tài)檢測方法和裝置,該檢測裝置中的兩個微動開關(guān)在智能門鎖所屬門完全關(guān)閉時均處于按下狀態(tài);而兩個微動開關(guān)連接MCU的傳輸電路結(jié)構(gòu)不同,以使MCU對應(yīng)輸入端接收到的檢測信號為互斥信號;因此,若限位開關(guān)損壞,也需要核實兩個檢測信號的狀態(tài),提高了智能門鎖的安全性;并且,兩個檢測信號為互斥信號,能夠避免因外界出現(xiàn)對鎖體施加高能量、高頻干擾信號等非法干擾,導(dǎo)致檢測信號被干擾成全高電平或者全低電平時,對智能門鎖的當(dāng)前狀態(tài)的誤判,進(jìn)一步提高了智能門鎖的安全性。 |
