檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)單元

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201720022499.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN206892358U 公開(kāi)（公告）日 2018-01-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN206892358U 申請(qǐng)公布日 2018-01-16
分類號(hào) G01V9/00;G01D21/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉騰;常進(jìn)龍;孫曉博;肖雅靜 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京中昌天盛科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京中昌天盛科技有限公司
地址 100044 北京市海淀區(qū)上園村3號(hào)交大科技大廈3層3087室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)單元，涉及地下檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。檢測(cè)系統(tǒng)包括服務(wù)器和與服務(wù)器通信連接的多個(gè)檢測(cè)單元，多個(gè)檢測(cè)單元分布于待測(cè)物周?chē)纬啥鄬雨嚵薪M，并沿待測(cè)物形成多個(gè)檢測(cè)路徑，其中多層陣列組用于感測(cè)多個(gè)檢測(cè)路徑的第一檢測(cè)數(shù)據(jù)，多層陣列組中靠近待測(cè)物的一層陣列組用于感測(cè)第二檢測(cè)數(shù)據(jù)，多層陣列組中遠(yuǎn)離待測(cè)物的一層陣列組用于感測(cè)第三檢測(cè)數(shù)據(jù)，服務(wù)器依據(jù)所述第一檢測(cè)數(shù)據(jù)和第二檢測(cè)數(shù)據(jù)獲得對(duì)應(yīng)待測(cè)物的第一影響數(shù)據(jù)，服務(wù)器依據(jù)第一檢測(cè)數(shù)據(jù)和第三檢測(cè)數(shù)據(jù)獲得對(duì)應(yīng)待測(cè)物的第二影響數(shù)據(jù)。本實(shí)用新型提供的檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)單元可獲得待測(cè)物的多維度數(shù)據(jù)，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。