檢測器和具有該檢測器的發(fā)射成像設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810174669.0 申請日 -
公開（公告）號 CN108562927A 公開（公告）日 2018-09-21
申請公布號 CN108562927A 申請公布日 2018-09-21
分類號 G01T1/202 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黃秋;謝思維;謝楊澤;翁鳳花;蘇志宏;彭旗宇 申請（專利權(quán)）人 廣東順德南方醫(yī)大科技園有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京睿邦知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 東莞南方醫(yī)大松山湖科技園有限公司;廣東順德南方醫(yī)大科技園有限公司;廣東影諾數(shù)字醫(yī)學(xué)科技有限公司
地址 523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科學(xué)苑10號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種檢測器及具有該檢測器的發(fā)射成像設(shè)備。檢測器包括多層閃爍晶體以及多排光傳感器陣列。多層閃爍晶體上下堆疊在一起構(gòu)成多層連續(xù)晶體陣列，多層連續(xù)晶體陣列具有六個面，且尺寸為mⅹnⅹAh,尺寸nⅹAh、mⅹAh對應(yīng)的四個面為側(cè)面，尺寸mⅹn對應(yīng)的兩個面分別為上底面、下底面，m為閃爍晶體的長，n為閃爍晶體的寬，h為閃爍晶體的高，A為閃爍晶體的層數(shù)；每排光傳感器陣列包括多個光傳感器，多排光傳感器陣列耦合至多層連續(xù)晶體陣列的側(cè)面，且，一排光傳感器陣列耦合于多層閃爍晶體中的至少一層閃爍晶體的側(cè)面上。本發(fā)明檢測器具備高性能的時間測量潛力。