一種平板顯示集成電路工藝設(shè)計(jì)方法及工具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811600122.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109635488A 公開（公告）日 2019-04-16
申請公布號 CN109635488A 申請公布日 2019-04-16
分類號 G06F17/50（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 牛歡歡; 朱能勇 申請（專利權(quán)）人 上海華大九天信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京德崇智捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王金雙
地址 210032 江蘇省南京市江北新區(qū)星火路17號創(chuàng)智大廈A座8層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種平板顯示集成電路工藝設(shè)計(jì)方法，包括以下步驟：1）設(shè)計(jì)不同寬、長比器件，并進(jìn)行TFT特性測試，提取所述不同寬、長比器件的模擬仿真模型和角模型；2）制定流程的設(shè)計(jì)規(guī)范；3）生成基礎(chǔ)器件的符號視圖和門級子電路的示意圖和符號視圖；4）設(shè)計(jì)可變參數(shù)單元的版圖；5）開發(fā)工藝層技術(shù)文件；6）開發(fā)驗(yàn)證文件，并對開發(fā)的參數(shù)單元進(jìn)行交叉驗(yàn)證。本發(fā)明的平板顯示集成電路工藝設(shè)計(jì)方法及工具，通過CDF參數(shù)設(shè)置自動(dòng)生成對應(yīng)的網(wǎng)表，簡化了仿真驗(yàn)證的流程；避免了后期驗(yàn)證中版圖和原理圖檢查不一致的現(xiàn)象。