一種芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022256838.0 申請日 -
公開（公告）號 CN213398652U 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN213398652U 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何士龍 申請（專利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 胡彬
地址 201203上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)龍東大道3000號5號樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片測試裝置，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域。該芯片測試裝置包括測試座體和多個導(dǎo)電接觸片，測試座體上設(shè)置有第一容納腔；多個導(dǎo)電接觸片均設(shè)置于第一容納腔內(nèi)；導(dǎo)電接觸片上設(shè)置有至少兩個接觸部，接觸部包括第一接觸面和第二接觸面，第一接觸面與待測芯片接觸，第二接觸面與測試線路板接觸，以將待測芯片與測試線路板電連接。本實用新型提供的芯片測試裝置，不僅可以測試大電流芯片，而且使用壽命長，節(jié)約成本。