一種芯片測(cè)試電路、裝置及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011613846.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112748326A 公開（公告）日 2021-05-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN112748326A 申請(qǐng)公布日 2021-05-04
分類號(hào) G01R31/28 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 顧培東;王波 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號(hào)5號(hào)樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測(cè)試電路、裝置及系統(tǒng)。該芯片測(cè)試電路包括：高頻信號(hào)測(cè)試模塊，高頻信號(hào)測(cè)試模塊與芯片組成回路；第一低頻信號(hào)測(cè)試模塊、第二低頻信號(hào)測(cè)試模塊、第三低頻信號(hào)測(cè)試模塊和第四低頻信號(hào)測(cè)試模塊分別與芯片和低頻信號(hào)測(cè)試器件電連接，第一低頻信號(hào)測(cè)試模塊、第二低頻信號(hào)測(cè)試模塊、第三低頻信號(hào)測(cè)試模塊和第四低頻信號(hào)測(cè)試模塊的電路結(jié)構(gòu)相同，均包括電阻或者錐形電感。本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案，在同時(shí)傳輸高頻測(cè)試信號(hào)和低頻測(cè)試信號(hào)的基礎(chǔ)上，提高了芯片測(cè)試電路可以傳輸?shù)母哳l測(cè)試信號(hào)的頻率。