一種芯片測(cè)試用探針和芯片測(cè)試裝置
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110231417.9 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113009196A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-06-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113009196A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-22 |
分類(lèi)號(hào) | G01R1/067;G01R31/28 | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 顧培東;蔣衛(wèi)兵 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人 | 胡彬 |
地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號(hào)5號(hào)樓302室-5325 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片測(cè)試用探針和芯片測(cè)試裝置,芯片測(cè)試用探針包括探針保持體,設(shè)置在插座殼體中,于所述探針保持體的一端開(kāi)設(shè)有安裝孔;第一彈簧,所述第一彈簧穿設(shè)在所述安裝孔中,所述第一彈簧的一端與所述安裝孔的底面抵接;探針針頭,一端穿設(shè)在所述安裝孔中,且與所述第一彈簧的另一端抵接,所述探針針頭的另一端相對(duì)所述插座殼體上的探針孔伸出,所述探針針頭能夠沿所述安裝孔的軸向往復(fù)移動(dòng);第二彈簧,套設(shè)在所述探針保持體上,且一端能夠與所述探針保持體抵接,另一端與所述插座殼體抵接。本發(fā)明夠保證探針保持體與插座殼體穩(wěn)定接觸,從而滿(mǎn)足測(cè)試要求。 |
