一種芯片測(cè)試用探針和芯片測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110231417.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113009196A 公開(kāi)(公告)日 2021-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN113009196A 申請(qǐng)公布日 2021-06-22
分類(lèi)號(hào) G01R1/067;G01R31/28 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 顧培東;蔣衛(wèi)兵 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 代理人 胡彬
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號(hào)5號(hào)樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片測(cè)試用探針和芯片測(cè)試裝置,芯片測(cè)試用探針包括探針保持體,設(shè)置在插座殼體中,于所述探針保持體的一端開(kāi)設(shè)有安裝孔;第一彈簧,所述第一彈簧穿設(shè)在所述安裝孔中,所述第一彈簧的一端與所述安裝孔的底面抵接;探針針頭,一端穿設(shè)在所述安裝孔中,且與所述第一彈簧的另一端抵接,所述探針針頭的另一端相對(duì)所述插座殼體上的探針孔伸出,所述探針針頭能夠沿所述安裝孔的軸向往復(fù)移動(dòng);第二彈簧,套設(shè)在所述探針保持體上,且一端能夠與所述探針保持體抵接,另一端與所述插座殼體抵接。本發(fā)明夠保證探針保持體與插座殼體穩(wěn)定接觸,從而滿(mǎn)足測(cè)試要求。