一種芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010818568.X 申請日 -
公開（公告）號 CN111965524B 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN111965524B 申請公布日 2021-06-29
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顧培東;張彤 申請（專利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 201203上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號5號樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了一種芯片測試裝置，該芯片測試裝置包括射頻電路板，射頻電路板表面設(shè)置有至少一條射頻信號線和至少一個射頻連接柱，射頻連接柱與射頻信號線一一對應(yīng)且一體設(shè)置，射頻連接柱與待測試芯片電連接；至少一個射頻連接器，射頻連接器與射頻信號線一一對應(yīng)且電連接，射頻連接器與測試儀器電連接。本發(fā)明實(shí)施例提供的芯片測試裝置能夠使射頻信號在傳輸過程中產(chǎn)生的損耗較少，從而提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。