一種芯片測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010818568.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111965524A 公開(kāi)（公告）日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN111965524A 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類(lèi)號(hào) G01R31/28 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 顧培東;張彤 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 上海捷策創(chuàng)電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)龍東大道3000號(hào)5號(hào)樓302室-5325
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種芯片測(cè)試裝置，該芯片測(cè)試裝置包括射頻電路板，射頻電路板表面設(shè)置有至少一條射頻信號(hào)線和至少一個(gè)射頻連接柱，射頻連接柱與射頻信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)且一體設(shè)置，射頻連接柱與待測(cè)試芯片電連接；至少一個(gè)射頻連接器，射頻連接器與射頻信號(hào)線一一對(duì)應(yīng)且電連接，射頻連接器與測(cè)試儀器電連接。本發(fā)明實(shí)施例提供的芯片測(cè)試裝置能夠使射頻信號(hào)在傳輸過(guò)程中產(chǎn)生的損耗較少，從而提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。