一種CP測試探針最佳路徑的算法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811074043.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109190748B 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN109190748B 申請公布日 2021-09-17
分類號 G06N3/00;G06K9/62 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳湘芳 申請（專利權）人 上海哥瑞利軟件股份有限公司
代理機構 上海精晟知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 馮子玲
地址 200000 上海市閔行區(qū)園文路28號318室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種CP測試探針最佳路徑的算法，包括：步驟一，根據(jù)晶圓的芯片狀態(tài)圖將需要測試的芯片用坐標表示；步驟二，用基于合并的層次聚類的改進算法對步驟一標識的芯片進行聚類；步驟三，聚類結束距離跟探針卡的探針分布(N*M)一致，步驟四，將每個類的左上角坐標作為本類的新坐標；步驟五，通過蟻群算法找到通過所有類的最短路徑，此最短路徑即為探針移動的最佳路徑。本發(fā)明的CP測試探針最佳路徑的算法，大大提高了路徑設置的效率，有效減少人力成本和測試時間，提高產(chǎn)能。此算法結合多個動態(tài)參數(shù)，計算最優(yōu)路徑，有效減少探針卡的接觸晶圓次數(shù)，從而提高測試效率，并盡可能地降低因為測試帶給產(chǎn)品質(zhì)量的影響。