一種多層外延超結(jié)結(jié)構(gòu)VDMOS的結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202120066156.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213878103U | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN213878103U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-03 |
分類號(hào) | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張永利;劉文;秦鵬海;王新強(qiáng);王丕龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳佳恩功率半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 武漢聚信匯智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉丹 |
地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道固興社區(qū)駿翔U8智造產(chǎn)業(yè)園U6.7棟216 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供了一種多層外延超結(jié)結(jié)構(gòu)VDMOS的結(jié)構(gòu),包括漏極,漏極的上方設(shè)置有襯底,襯底的上方設(shè)置有n型漂移區(qū),n型漂移區(qū)的內(nèi)部設(shè)置有p型塊,p型塊的上方設(shè)置有p型阱,p型阱的內(nèi)部設(shè)有n+型源區(qū)和p+型短路區(qū),在n型漂移區(qū)設(shè)置垂直于條形多晶層方向的橫向p型塊,將主要承壓層p型塊區(qū)域與p型阱的延伸方向垂直,使p型塊長(zhǎng)度不再成為限制單胞大小的因素,單胞大小完全由多晶層與多晶層間隔長(zhǎng)度決定,n型漂移區(qū)與p型塊在承受源極至漏極反向電壓時(shí),因電荷平衡原理,相互耗盡,形成空間電荷區(qū)承擔(dān)其反向電壓,由此可降低n型漂移區(qū)和襯底的電阻率,較低的n型漂移區(qū)和襯底的電阻率在其導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),具有更小的導(dǎo)通電阻,降低了導(dǎo)通損耗。 |
