IC測試分類存儲裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310155996.9 申請日 -
公開（公告）號 CN103240229A 公開（公告）日 2013-08-14
申請公布號 CN103240229A 申請公布日 2013-08-14
分類號 B07C5/02(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 朱玉萍;岑剛;焦建華 申請（專利權）人 景焱（江蘇）智能裝備有限公司
代理機構 上海翼勝專利商標事務所（普通合伙） 代理人 嘉興景焱智能裝備技術有限公司
地址 314100 浙江省嘉興市嘉善縣大云鎮(zhèn)嘉善大道2188號3號樓1D、1E室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路分裝技術領域，公開了一種IC測試分類存儲裝置，包括IC檢測單元、IC料盤單元、第一IC輸送單元、轉(zhuǎn)盤單元、旋轉(zhuǎn)作業(yè)單元、第二IC輸送單元，IC料盤單元包括待檢料盤存放位、待放料盤存放位，轉(zhuǎn)盤單元設置在待檢料盤存放位的前端，第一IC輸送單元位于轉(zhuǎn)盤單元和待檢料盤存放位之間，旋轉(zhuǎn)作業(yè)單元位于轉(zhuǎn)盤單元的一側(cè)，旋轉(zhuǎn)作業(yè)單元包括至少一個轉(zhuǎn)臂，轉(zhuǎn)臂循環(huán)能夠轉(zhuǎn)動定位至轉(zhuǎn)盤單元上方、IC檢測單元上方和第二輸送單元上方，依次實現(xiàn)吸取IC、檢測IC和暫存IC，第二IC輸送單元將檢測完成的IC根據(jù)其檢測結果分別放置于不同的待放料盤上。本發(fā)明實現(xiàn)能IC的高速測試和高速分類。