一種微同軸結(jié)構(gòu)的制備方法及微同軸結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010640448.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111952708B 公開(kāi)(公告)日 2021-07-02
申請(qǐng)公布號(hào) CN111952708B 申請(qǐng)公布日 2021-07-02
分類號(hào) H01P11/00;H01P3/06 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 顧杰斌;張偉博;夏偉鋒 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海邁鑄半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 賀姿;胡晶
地址 201821 上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)葉城路912號(hào)J3408室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種微同軸結(jié)構(gòu)的制備方法,包括如下步驟:先設(shè)置分別貫穿第一基片和第二基片的上通槽、下通槽、上腔體和下腔體;然后于第一基片和第二基片的外表面上沉積隔離鈍化層;接著上通槽和下通槽共同形成貫通的通槽腔體結(jié)構(gòu),并且上腔體和下腔體形成內(nèi)腔體結(jié)構(gòu),在通槽腔體結(jié)構(gòu)和內(nèi)腔體結(jié)構(gòu)內(nèi)分別填充金屬介質(zhì)而形成通槽金屬層和腔體金屬層;再將第一基片和第二基片進(jìn)行腐蝕去除操作,形成微同軸結(jié)構(gòu)。本發(fā)明將通槽金屬層和腔體金屬層之間的基片進(jìn)行腐蝕去除,從而在通槽金屬層和腔體金屬層之間形成內(nèi)空的腔體,內(nèi)外導(dǎo)體之間采用空氣作為介質(zhì)層,空氣的介電常數(shù)和損耗角較小,進(jìn)而可以提高微同軸結(jié)構(gòu)的傳輸性能。