一種屏蔽柵-溝槽型MOSFET的結構及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110355178.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112736138A | 公開(公告)日 | 2021-04-30 |
申請公布號 | CN112736138A | 申請公布日 | 2021-04-30 |
分類號 | H01L29/423;H01L29/786;H01L21/336 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊國江;于世珩;張勝凱;白宗緯 | 申請(專利權)人 | 江蘇長晶科技股份有限公司 |
代理機構 | 南京華訊知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 劉小吉 |
地址 | 210000 江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園騰飛大廈C座13樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種屏蔽柵?溝槽型MOSFET的結構及其制造方法。本發(fā)明中的屏蔽柵?溝槽型MOSFET采用階梯柵極氧化物構成柵介質(zhì)層,所述階梯柵極介質(zhì)層為n階氧化物,從溝槽下方到溝槽上方的氧化物厚度分別為D1,D2,……,Dn,其中,D1>D2>……>Dn。本發(fā)明中公開的采用階梯柵極氧化物作為柵介質(zhì)層的屏蔽柵?溝槽型MOSFET結構,可以有效地實現(xiàn)柵極和漏極之間的隔離,減小柵漏電容Cgd,還能使得該MOSFET具有較低的比導通電阻且保持高的擊穿電壓,提高MOSFET的性能。 |
