LA-ICP-MS動態(tài)變形束斑的測試方法與設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210184932.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114509493A | 公開(公告)日 | 2022-05-17 |
申請公布號 | CN114509493A | 申請公布日 | 2022-05-17 |
分類號 | G01N27/626(2021.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 楊溢;戴智慧;劉建忠;李陽;李瑞;曾小家;谷亞亞;張莉;籍進(jìn)柱 | 申請(專利權(quán))人 | 中國科學(xué)院地球化學(xué)研究所 |
代理機構(gòu) | 北京高沃律師事務(wù)所 | 代理人 | - |
地址 | 550002貴州省貴陽市觀山湖區(qū)林城西路99號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種LA?ICP?MS動態(tài)變形束斑的測試方法與設(shè)備,所述方法包括獲取樣品表面物相邊界形狀與所述樣品的內(nèi)部的三維物相分布;根據(jù)所述樣品的三維物相分布確定目標(biāo)顆粒和標(biāo)樣,并對所述標(biāo)樣進(jìn)行激光斑控制,得到所述目標(biāo)顆粒的束斑;根據(jù)所述三維物相分布獲取每次剝蝕分層,并根據(jù)所述三維物相分布對應(yīng)的目標(biāo)顆粒剝蝕分層截面的形狀,確定光束變形片對應(yīng)樣品的目標(biāo)顆粒截面形狀變化序列;所述光束變形片的亮區(qū)形狀對應(yīng)待剝蝕的所述束斑的截面形狀的幾何相似圖形;按所述目標(biāo)顆粒截面形狀變化序列的順序?qū)λ龉馐冃纹M(jìn)行逐幀運行,以使光束對所述樣品進(jìn)行剝蝕。本發(fā)明能夠提高樣品成分?jǐn)?shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,并節(jié)約樣品。 |
