LA-ICP-MS動態(tài)變形束斑的測試方法與設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210184932.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114509493A 公開（公告）日 2022-05-17
申請公布號 CN114509493A 申請公布日 2022-05-17
分類號 G01N27/626（2021.01）I;G01N1/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊溢;戴智慧;劉建忠;李陽;李瑞;曾小家;谷亞亞;張莉;籍進(jìn)柱 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院地球化學(xué)研究所
代理機構(gòu) 北京高沃律師事務(wù)所 代理人 -
地址 550002貴州省貴陽市觀山湖區(qū)林城西路99號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種LA?ICP?MS動態(tài)變形束斑的測試方法與設(shè)備，所述方法包括獲取樣品表面物相邊界形狀與所述樣品的內(nèi)部的三維物相分布；根據(jù)所述樣品的三維物相分布確定目標(biāo)顆粒和標(biāo)樣，并對所述標(biāo)樣進(jìn)行激光斑控制，得到所述目標(biāo)顆粒的束斑；根據(jù)所述三維物相分布獲取每次剝蝕分層，并根據(jù)所述三維物相分布對應(yīng)的目標(biāo)顆粒剝蝕分層截面的形狀，確定光束變形片對應(yīng)樣品的目標(biāo)顆粒截面形狀變化序列；所述光束變形片的亮區(qū)形狀對應(yīng)待剝蝕的所述束斑的截面形狀的幾何相似圖形；按所述目標(biāo)顆粒截面形狀變化序列的順序?qū)λ龉馐冃纹M(jìn)行逐幀運行，以使光束對所述樣品進(jìn)行剝蝕。本發(fā)明能夠提高樣品成分?jǐn)?shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，并節(jié)約樣品。